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この商品の説明
目次
第1章 序論;第2章 信頼性の基礎数理;第3章 ワイブル分布と統計的手法;第4章 システムの信頼性;第5章 信頼性の基礎物理;第6章 半導体の故障メカニズム;第7章 品質保証システム;第8章 信頼性設計;第9章 信頼性試験;第10章 故障解析;第11章 品質管理;第12章 ソフトウェアの品質・信頼性;第13章 品質・信頼性・安全性に関する規格と認証制度;付録 故障メカニズム研究の最新技術動向;付録 品質管理手法
商品仕様
- アイテム名:書籍
- ページ数:200p
- 大きさ:26cm(B5)
- 出版社:共立出版
- ISBN-10:4320123042
- ISBN-13:9784320123045
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