LSI故障解析技術のすべて
- 開発促進・歩留向上・信頼性向上のキーテクノロジー
- 著者: 二川清
- 書籍
- 出版社:工業調査会
- 発売日: 2007年11月
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この商品の説明
著者/アーティスト
著者: 二川清
目次
第1章 LSIの故障とその特徴(故障解析に関連するLSIのトレンド;LSIの故障の特徴;LSIの故障モードと故障メカニズム);第2章 LSI故障解析技術概論(LSI故障解析の基本の「き」;故障解析の手順;故障解析技術の分類;パッケージ部の故障解析;チップ部の故障解析);第3章 故障解析事例(DRAMのIR‐OBIRCHなどによる解析事例;ロジックLSIの解析事例;パワーMOS-FETの解析事例;TiSi配線の解析事例;銅配線の解析事例;パッケージ中ボイドの解析事例);第4章 新しい故障解析関連技術の開発動向(光を利用した故障解析技術発展の流れと最近の動向;OBIRCH関連技術発展の流れと最近の動向;そのほかの故障解析技術関連の開発動向;LSITS(LSIテスティングシンポジウム),ISTFA(故障解析国際会議)にみる動向)
商品仕様
- アイテム名:書籍
- ページ数:221p
- 大きさ:21cm(A5)
- 出版社:工業調査会
- ISBN-10:4769312695
- ISBN-13:9784769312697
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