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この商品の説明
著者/アーティスト
著者: 二川清
目次
第1章 LSIの故障とその特徴(故障解析に関連するLSIのトレンド;LSIの故障の特徴 ほか);第2章 LSI故障解析技術概論(基本の「き」;故障解析の手順 ほか);第3章 故障解析事例(DRAMのIR‐OBIRCHなどによる解析事例;ロジックLSI(システムLSI)の解析事例 ほか);第4章 新しい故障解析関連手法の開発動向(光を利用した故障解析技術発展の流れと最近の動向;OBIRCH関連手法発展の流れと最近の動向 ほか)
商品仕様
- アイテム名:書籍
- ページ数:194p
- 大きさ:21cm(A5)
- 出版社:日科技連出版社
- ISBN-10:4817194146
- ISBN-13:9784817194145
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